[LED EXPO&OLED EXPO 2011] 제르니크, 다양한 광학적 스펙 측정하는 'LED 측정시스템'

송민경 2011-06-25  
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제르니크(ZERNIKE 대표 조진성, www.zernike.co.kr)는 6월 21일부터 24일까지 일산 킨텍스에서 열린 'LED EXPO&OLED EXPO 2011(www.ledexpo.com)'에 참가해 'LED 측정 시스템'을 선보였다.

'LED 측정 시스템'은 표준 스펙트로레디오미터에 LED 총광량과 색을 분석하는 적분구, LED 광원의 발광 3D 분포를 측정하는 고니오미터, 표준 Candelas 또는 Watts per steradian을 측정할 수 있는 장비를 하나로 결합해 LED의 광학적 스펙을 정밀 측정할 수 있는 장비다.

특히 하나의 스펙트로레디오미터를 이용해 다양한 측정을 할 수 있어 경제적인 효과 뛰어나다.

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